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FISCHERSCOPE X-RAY 5000 x射線熒光測(cè)厚儀
FISCHERSCOPE X-RAY 5000 x射線熒光測(cè)厚儀 FISCHERSCOPE X-RAY 5000系列儀器是為了集成到生產(chǎn)線而特別設(shè)計(jì)的法蘭式測(cè)量頭。它*適合于在連續(xù)運(yùn)轉(zhuǎn)的生產(chǎn)過(guò)程中連續(xù)、非破壞地在線直接對(duì)大面積產(chǎn)品進(jìn)行合金成分分析或者*薄鍍層測(cè)量。
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菲希爾XDL230
菲希爾XDL230,菲希爾X射線測(cè)厚儀,F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDL230,F(xiàn)ISCHER便攜式測(cè)厚儀
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菲希爾X射線XULM測(cè)厚儀適用領(lǐng)域特點(diǎn)
菲希爾X射線XULM測(cè)厚儀適用領(lǐng)域特點(diǎn) 適合測(cè)量小的結(jié)構(gòu)。它配備了微聚焦管,測(cè)量點(diǎn)最小可達(dá)約100μm,同時(shí)比例接收器仍然可以保持相對(duì)高的計(jì)數(shù)率。
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菲希爾X射線熒光測(cè)厚儀XUL小型臺(tái)式
菲希爾X射線熒光測(cè)厚儀XUL小型臺(tái)式 射線管出射點(diǎn)稍大,非常適合測(cè)量點(diǎn)在1mm以上的應(yīng)用
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菲希爾Fischer測(cè)厚儀XUL220/X射線
菲希爾Fischer測(cè)厚儀XUL220/X射線 x射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀,用于無(wú)損測(cè)量鍍層厚度及分析材料成分
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Fischer菲希爾X熒光射線測(cè)厚儀篤摯
Fischer菲希爾X熒光射線測(cè)厚儀篤摯 FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列是應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線鍍層測(cè)厚及材料分析儀。這款儀器專門是為測(cè)量超薄鍍層和微含量而設(shè)計(jì),是用于質(zhì)量控制,質(zhì)量檢驗(yàn)和生產(chǎn)監(jiān)控的合適的測(cè)量?jī)x器
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X-Ray熒光射線金屬涂層測(cè)厚儀菲希爾原裝
X-Ray熒光射線金屬涂層測(cè)厚儀菲希爾原裝 方法的特點(diǎn)是操作簡(jiǎn)單,速度快,可以進(jìn)行原位測(cè)量,在現(xiàn)場(chǎng)獲得目標(biāo)元素的含量;劃分礦與非礦的界限,代替或部分代替刻槽取樣。放射性同位素X射線熒光測(cè)井和海底X射線熒光測(cè)量,也得到了很大的發(fā)展
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