MiniTest 400A超聲波測厚儀

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MiniTest 400A超聲波測厚儀

MiniTest 400系列超聲波測厚儀分為：MiniTest400 MiniTest400A MiniTest400B

產品特點：

1、高阻抗雙晶探頭
2、脈沖－回波方式　量程達0.65-400mm 回波－回波方式(透過涂層測量)　量程達3-25mm
3、具有堅固的防靜電、防火塑料外殼。
4、快速測量金屬、塑料、玻璃、陶瓷等材料的厚度，適合實驗室及工業(yè)現(xiàn)場使用。

應用領域：

快速測量金屬、塑料、玻璃、陶瓷等材料的厚度。適合實驗室及工業(yè)現(xiàn)場使用。
適用于各種板材、管材、油罐、輸油管、鍋爐容器壁厚及其局部腐蝕、銹蝕的檢測。
適用于煉油、鋼鐵、冶金、造船、機械、化工、電力、原子能等各工業(yè)部門的產品檢驗

型號特點：

MiniTest 400

操作簡便，易于使用。將探頭放置到被測物體表面上，即可讀出所測厚度的數據，或是將探頭沿被測物體表面拖動，即可找出所測物體厚度zui薄點位置。

ＭiniTest 400A

超聲波測厚儀具有MiniTest 400全部功能外，新增了下列功能：探頭自動識別；開機自動校零；預置9種常用材料聲速值；數據分組；USB接口上傳；聲速測量；設限測量；zui小值測量；差值測量

ＭiniTest 400B

超聲波測厚儀具有MiniTest 400A全部功能外，新增了下列功能：回波－回波測量(透過涂層測量)

標準配置 可選配置

儀器主機階梯試塊，通訊電纜，通訊軟件，高溫探頭等，詳情請咨詢當地經

帶連接電纜的探頭一支銷商。

耦合劑（75ml）

2節(jié)5號電池

塑料手提箱

中英文說明書

保修卡

MiniTest 400A超聲波測厚儀技術參數

項目	參數		400	400A	400B
顯示信息	測量值，聲速值，探頭型號，電池電量，當前數據組		●	●	●
測量范圍	回波－回波測量：3mm-25mm				●
測量范圍	發(fā)射－回波測量：0.65mm-400mm(不同型號探頭決定不同測量范圍)		●	●	●
示值精度	小于99.99mm時為0.01mm;大于100mm時為0.1mm		●	●	●
單位	公制/英制		●	●	●
聲速范圍	1000m/s - 9999m/s,		●	●	●
增益	自動		●	●	●
增益	手動			●	●
聲速測量	確定未知聲速材料的聲速，預置9種常用材料聲速值			●	●
探頭識別	自動識別探頭			●	●
零位校準	開機自動零位校準			●	●
測量模式	發(fā)射－回波模式	標準測量：滿足常用的檢測要求	●	●	●
		zui小值測量：滿足曲面或需要選擇zui小值的測量環(huán)境		●	●
		差分測量：顯示實際測量值與設定標準值的差值		●	●
		平均測量：提供2-9點的測量平均值		●	●
		上下限測量：極限報警		●	●
	回波－回波模式	透過涂層測量基體厚度			●
	快速掃查模式	適用于高溫或需要提高測量速度的測量環(huán)境，每秒10次的測量，可以同時顯示測量中的zui大值和zui小值		●	●
數據存儲	1組2000個數據		●
數據存儲	10組5000個數據，動態(tài)分配			●	●
數據輸出	USB接口，通過USB接口上傳儀器中存儲的數據到計算機			●	●
關機選擇	可選擇2分鐘，5分鐘自動關機或選擇不自動關機			●	●
外形尺寸	130× 73 × 24 mm(L×W×H)
重量	約190g
工作溫度	-20至50攝氏度
電池	兩節(jié)5號電池，電量顯示，電量不足報警
工作時間	不間斷測量不少于80小時
顯示屏	128×64 背光

可選探頭：

型號	晶體直徑	頻率	測量范圍	工作溫度	簡介
EP8E	8MM	5.0MHZ	3-25MM(E-E) 0.8-300MM(T-E)	-12-+60℃	400B標配探頭，400B*探頭，具有透過涂層測量模式。zui小測量管外徑20mm
EP4	4MM	10.0MHZ	0.65-20MM	-12-+60℃	小管徑探頭。zui小測量管外徑10mm
EP6	6MM	7.5MHZ	0.65-50MM	-12-+60℃	主要用于薄壁及小弧面的測量. zui小測量管外徑15mm
EP8	8MM	5.0MHZ	0.8-350MM	-12-+60℃	400,400A標配探頭，主要用于測量表面為平面或者較大弧度的材料。zui小測量管外徑20mm
ECP12	12MM	2.0MHZ	2.0-500MM	-12-+60℃	粗晶探頭，主要用于鑄鐵等粗晶材質的測量. zui小測量管外徑30mm
EHP13	13MM	5.0MHZ	3.0-200MM	-12-+350℃	高溫探頭，主要用于測量溫度小于350℃的材料的測量，注：測量時晶體與被測高溫物體的接觸時間不得大于5S. zui小測量管外徑25mm